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更新日期:
2024-11-14
型号:
厂商性质:
代理商
浏览量:
632
线光源测试设备
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更新日期:
2024-11-14
型号:
厂商性质:
代理商
浏览量:
573
大尺寸光斑分析仪-200mm
大尺寸光斑分析仪-200mm 大尺寸光斑分析仪,检测200mm成像区域,成套系统包含:WinCamD-LCM CMOS光斑分析仪,成像透镜,透射式屏幕组件。
更新日期:
2024-11-14
型号:
厂商性质:
代理商
浏览量:
614
dataray
dataray提供灵活的M2测试配套仪器,可按照客户的激光参数选择50mm或则200mm行程的扫描移位台,可搭载他们全系列的光斑分析产品/Beam R2组合而成M2分析仪。位移台搭载BeamR2扫描刀口分析仪。
更新日期:
2024-11-14
型号:
厂商性质:
代理商
浏览量:
725
BeamMap2 XYZΘΦ 扫描狭缝光斑分析仪
BeamMap2 XYZΘΦ 扫描狭缝光斑分析仪 DataRay的BeamMap2代表了一种*不同的实时光束轮廓分析方法。它允许在光束行进的多个位置进行测量,从而扩展了Beam'R2的测量功能。这种实时狭缝扫描系统在旋转的圆盘上的多个z平面中使用XY狭缝对,以同时在四个不同的z位置测量四个光束轮廓。 BeamMap2*的zhuan利设计对于实时测量焦点位置,M2,光束发散和指向zui为便利。
更新日期:
2024-11-14
型号:
厂商性质:
代理商
浏览量:
908
Beam’R2 XY 扫描狭缝光斑分析仪
Beam’R2 XY 扫描狭缝光斑分析仪 DataRay的Beam'R2非常适合许多激光光束轮廓分析应用。利用标准的2.5μm狭缝和较大的刀口狭缝,Beam'R2能够测量直径小至2μm的光束。利用Si和InGaAs或扩展InGaAs的选件,Beam'R2可以对190 nm至2500 nm的光束进行轮廓分析。扫描狭缝光斑分析仪提供比基于相机的系统更高的分辨率
更新日期:
2024-11-14
型号:
厂商性质:
代理商
浏览量:
520
TaperCamD-LCM大尺寸CMOS光束分析仪 25mm
TaperCamD-LCM大尺寸CMOS光束分析仪 25mm TaperCamD-LCM具有25 x 25 mm的大有效面积,4.2 M像素,12.5 x 12.5μm(有效)像素,光学和电子触发全局快门以及2500:1的SNR,可提供最da的有源传感器面积。
更新日期:
2024-11-14
型号:
厂商性质:
代理商
浏览量:
534
BladeCam-HR/XHR 0.5英寸 CMOS 光斑分析仪
BladeCam-HR/XHR 0.5英寸 CMOS 光斑分析仪 高分辨率和高度紧凑的BladeCam™光束轮廓仪的像素尺寸为3.2μm,厚度仅为0.65英寸(16.5毫米),可集成到光学系统和OEM应用中。软件功能齐全,可高度定制,且不收取许可费用,无限制安装和免费软件更新。非常适合以下应用:CW激光轮廓分析;激光系统的现场服务;光学组件仪器对准;光束漂移和记录;研发; OEM集成;质量控制;和
更新日期:
2024-11-14
型号:
厂商性质:
代理商
浏览量:
522
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